本公司实验室平台历经多年的积累和探索，开创了学科与仪器平台融合发展的模式，形成了教学、科研和服务三位一体的特色。保持传统光谱、质谱、波谱、能谱和色谱等优势领域的高质量科研、教学和测试服务。目前研究方向涵盖：质谱分析、光谱及成像分析、分离及色谱分析表面与材料分析、生命分析化学、药物分析化学、环境分析化学、电分析化学、纳米分析化学等领域。

透射电子显微镜（TEM）分析法主要对材料的微观组织观察与分析，包括各种结构材料、功能材料、纳米材料、薄膜材料、复合材料等。联合科研平台现有多台透射电子显微镜（TEM），包括一台钨灯丝透射电镜JEM-2010、一台场发射透射电镜TecnaiG2F20、两台超亮电子枪场发射透射电镜TalosF200X。本中心还配有Gatan原位加热、冷却样品杆，百实创INSTEMS原位芯片样品杆及其加热载台、力热耦合载台。

电子背散射衍射（EBSD）分析法主要对材料的微观组织观察与分析，包括黑色金属（碳素钢、合金钢、不锈钢、铸铁、铁合金等）、有色金属（铝合金、铜合金、镁合金、钛合金、锌合金、镍合金等）、磁性材料、半导体材料等。用于解决晶体材料在结晶、薄膜制备、半导体器件、形变、再结晶、相变、断裂、腐蚀等过程中的问题。

扫描电子显微镜形貌观察与能谱分析法主要对金属材料的观察与分析，包括黑色金属（碳素钢、合金钢、不锈钢、铸铁、铁合金等）、有色金属（铝合金、铜合金、镁合金、钛合金、锌合金、镍合金等）、磁性材料、半导体材料、陶瓷材料、粉体材料、纳米材料和矿物等。

场发射电子探针显微分析仪(EPMA)主要用于地球科学和材料科学中固体样品表面微区主量元素的准确定量分析，尤其适合超轻元素的定性和定量分析。还可以实现微区的痕量元素分析。

X射线衍射分析（XRD）是利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。

XPS可进行金属、合金中夹杂物成分分析，炉渣、矿相、材料中元素及其在体相中的深度分布分析等，能给出逐层元素变化的具体信息（包括价态、含量、分布及元素的图像）。适用于非放射性和非挥发性金属、合金等导体、半导体、绝缘体，粉末、薄膜等。应用于物理、化学、生物、医学等领域。

激光扫描共聚焦显微镜以其高分辨率、动态观察、深度解析和定量分析等优势，为材料科学研究提供了强有力的工具。这种技术在金属材料、半导体材料、生物材料、复合材料和纳米材料等领域的研究中发挥着重要作用。广泛应用于生命科学、临床医学、化学、材料、环境以及相关交叉学科等领域。

俄歇电子能谱是一种利用高能电子束为激发源的表面分析技术，其作用深度仅为几个原子层，通过分析电子束激发的特征俄歇电子的能源可以获得表面元素的定性及定量结果。该仪器结合离子刻蚀技术可以方便获得材料表面沿深度方向的元素分布状态，是表面成分分析的重要手段之一。结合原位样品转移仓，可获得厌氧样品的表面化学分布。